Abstract:　 大型超電導ケーブル・イン・コンジット（CIC）導体では，長尺の場合にのみ現れる長時定数結合損失の低減が急務である。これまで８１素線サンプル導体内部の素線配置の３Ｄ計測を通して，不規則に現れる結合損失の発生機構の解明を目的に素線軌跡の３Ｄ計測を行ってきた。素線の軌跡は，導体をスライスし，両面の素線対応を調べるため，４端子法で素線抵抗を計測してきたが，これまでの装置の欠点は，計測に時間がかかることであった。そこで本研究では，サンプル導体よりも素線数が多い，実際のマグネットに使用されている導体の軌跡を測定するため，CCDカメラと，外部制御入力で0.2mm以下の移動精度を持つ３軸方向アクチュエータ，制御プログラムから成る新しい計測システムを構築し，LHDの486素線CIC導体の軌跡計測を行った結果について報告する。