山田 博 , 水口 歳人 , 中川 重康 , 金山 光一 , 平地 克也 （舞鶴高専）；小田部 荘司 （九工大）；馬渡 康徳 , 山崎 裕文 （産総研）
yamada*maizuru-ct.ac.jp
Abstract: 大面積化、長尺化が進む電力用高温超電導薄膜導体における臨界電流密度（Jc）および電界（E）-電流密度（J）特性まで含めた正確かつ普及型の非破壊検査法が求められている。そこで本研究では、第3高調波抵抗（V3抵抗）誘導法による標準化測定法に関する機関別実地試験を行った。広帯域化した可変RLキャンセル回路により、広い電界範囲のE-J特性が測定できた。また、Jc は最大でも±0.52%以内の偶然誤差で測定することができた。系統誤差については、他機関との比較より平均−8.6%とやや大きくなったが、n 値については 平均＋1.4%と小さく抑えられた。