町屋 修太郎 （原子力機構）；長村 光造 （応用科学研）；鈴木 裕士（原子力機構）；綾井 直樹 , 加藤 武志 , 林 和彦 , 佐藤 謙一 （住友電工）
machiya.shutaro*jaea.go.jp
Abstract: 中性子回折を用いて， 銀シース超伝導線材において内部のビ スマスフィラメントと外部の銀 合金のひずみ測定を非破壊的に行った.無ひずみの標準試験片を準備し残留ひずみをX線応力測定法と比較しながら評価するとともに，スタックした 試験片を用いて単軸引張り荷重下でのひずみ応答挙動を測定した．