村上 陽之 , 植田 浩史 , 石山 敦士 （早大）；小泉 徳潔 , 奥野 清 （原子力機構）
murakami*fuji.waseda.jp
Abstract: ITER工学設計活動の一環として、Nb3Snモデル・コイルの試験の結果、素線の臨界特性の劣化が確認された。その原因として、素線の局所的な曲げが考えられており、Nb3Sn素線に周期的な曲げ変形を印加した場合に、同様の劣化が生じることが実験的に確認されている。しかし、実験は特定の条件で行われているため、臨界特性の曲げ依存性について一般的な関係は示されていない。そこで、Nb3Sn素線の曲げ変形による臨界特性の劣化を統一的に評価するため、分布定数回路を用いた数値解析コードを開発した。運転条件や素線構造が劣化特性に与える影響について評価したので報告する。