A numerical study on Screening current-induced strain/stress in REBCO insert for 33T-CSM: Impact of edge impregnation
野島 渉平, 土屋 雄司, 長崎 陽, 津田 理, 淡路 智 （東北大）； ARNAUD Badel （Grenoble Alpes 大）； ALEXANDRE Zampa （東京大）
Abstract:我々は，内挿REBCOコイルを用いた33T無冷媒超伝導マグネット（33T-CSM）の開発を進めている． REBCOコイルには，上下面のみを含浸する端面含浸パンケーキ構造が採用されており，通電時の最大フープ応力が低減されることが明らかになっている．一方，近年，強磁場マグネットの開発において，遮蔽電流誘起の応力・ひずみ（SCIS）が重要な課題である．先行研究では，完全含浸がSCISの低減に有効であることが示されているが，端面含浸がSCISに及ぼす影響については未解明である．そこで本研究では，33T-CSMにおける端面含浸のSCISへの影響を明らかにすることを目的とし，数値解析を行なった．当日は，異なる含浸方法を適用したREBCOコイルにおいて，通電電流および遮蔽電流によるフープひずみ分布を求め，定性的な比較を行った結果について報告する．