Analysis of Obstacles in Long-length REBCO Coated Conductors Made by IBAD-PLD Process Based on Reel-to-Reel Scanning Hall-probe Microscopy Combined with Machine Learning: Comparison between The Wires from Different Manufacturers
呉 澤宇, 東川 甲平, 木須 隆暢 （九大）
Abstract:我々は、先行研究において、IBAD法で作製したテンプレート上にPLD法でREBCO超伝導層を製膜する商用REBCOテープ線材を対象に、リール式高速磁気顕微鏡計測と機械学習を用いた画像解析の融合によって、従来の局所Ic基準では検出が困難な長尺線材のテープ面内に内包される電流阻害領域を自動的に検出すると共に、その空間分布、サイズなどの統計事象の解析、さらにIcに対する影響を定量的に評価する手法を提案した。しかしメーカーが異なる線材への適用性など、本解析モデルの汎用性はまだ十分に検証できていない。本研究では、IBAD-PLD法プロセスを適用するものの、機械学習モデルのトレーニングに用いた線材とは異なるメーカーによって製造されたREBCO線材を対象に当該解析モデルを適用することで、電流阻害領域の検出精度と信頼性を検証すると共に、本解析手法によって得られる両線材の局所不均一性の違いについても考察した。