Evaluation of Voltage Distribution affected by Transient Response due to Power supply voltage in JT-60SA CS
園田 翔梧, 中村 一也, 結縄 ことみ （上智大）； 村上 陽之, 濱田 一弥, 畠山 昭一, 高橋 幸司 （量研機構）
Abstract: JT-60SAに用いられている電源はシステムの影響により，電圧の変動が確認されている。この電圧がCSモジュールに印加された場合，コイル内に一時的に集中した電圧分布が生じ，この過電圧は絶縁材の耐電圧を超え，コイルが損傷する可能性がある。先行研究では，CS (4モジュール)，電流リード，構造物を含むCS全体の解析モデルを作成し，共振現象による導体間電圧の影響について調査した。
本研究では，JT-60SA CSモジュールの電源電圧の測定結果から，最大電圧印加速度（dV/dt）を算出した。また，先行研究で作成された解析モデルを用いて過渡応答による導体間電圧への影響を調査した。解析結果より，実機運転時では過渡応答により層間の絶縁が損傷しないことが示された。