Critical current properties of REBCO thin films on Zr-patterned substrate
酒井 秀哉 （福岡工大）； 松本 明善 （NIMS）； 井上 昌睦 （福岡工大）
Abstract:交流損失低減のためにREBa2Cu3Oy (REBCO) 線材の細線化が検討されている。細線化の手法として機械やレーザーによる切断があるが，これらの手法では細線化できる幅に限界がある。極細多芯化の方法の一つとして，リソグラフィー技術を用いて基板上に金属 (Zr, Nb等) を線状にパターニングし，その後REBCOを成膜する手法が提案されている。本研究では，Zrを線状にパターニングしたSrTiO3基板にREBCOを成膜した試料の臨界電流特性を調べるために，走査型ホール素子磁気顕微鏡による面内臨界電流密度分布測定ならびに物理特性測定システムによる直流磁化測定を行った。