Current Status of Measuring Strain in Practical Superconducting Wires using Digital Image Correlation
町屋 修太郎 （大同大）； 長村 光造 （応用科学研究所）； 山根 昇悟, 梶田 慎也 （大同大）
Abstract:DIC呼ばれるデジタル画像相関法によるひずみ計測技術が急速に発展している。伸び計と同じ精度を得るには、まだまだ分解能不足と考えられるが、超電導線材や実用のひずみを評価するには少なくとも0.1%以下の分解能が必要である。現状の測定事例を紹介したい。