Elucidation of the cause of Ic degradation of high current HTS conductor (FAIR conductor) and its improvement
三戸 利行, 小野寺 優太, 平野 直樹, 高畑 一也, 柳 長門, 岩本 晃史, 濱口 真司, 高田 卓, 馬場 智澄 （NIFS）； 大辻 槙 （東大）； 筑本 知子 （中部大）； 川越 明史 （鹿児島大）； 川並 良造 （川並鉄工株式会社）
Abstract:核融合科学研究所では、核融合実験装置に適用可能な大電流容量のHTS導体及びコイルの研究開発を開始している。候補導体として、REBCOテープ線材と高純度アルミニウムシートを交互に積層し、円形断面のアルミニウム合金のジャケットの溝部に入れ、蓋部を摩擦攪拌接合（FSW)で接合した後で、電流分布の均一化及び機械特性の一様化を図るために導体に捻りを加えて製作するFAIR導体を開発している。当初FAIR導体の開発段階で、液体窒素中での通電試験で臨界電流特性の劣化が観測された。この特性劣化原因の解明とFSWの最適化等による導体製法の改善結果について報告する。