Ic change due to bending of double stacked coated conductors
町 敬人, 和泉 輝郎 （産総研）； 中村 美幸, 大倉 大佑, 蓮尾 信也, リー セルゲイ （SuperOX Japan）
Abstract:RE系超電導線材に内在する欠陥は1mあたり数個から数十個であるため，２枚の線材を貼り合わせることにより欠陥が同じ位置に重複する確率は低く，極端なIc劣化を緩和できる。２枚の線材は超電導層を内側にして貼り付けるため，曲げに対する中立線と超電導層は近いため通常のCCよりも曲げ特性が良好であると推察されるが，これまで系統だった報告はなかった。そこで，我々はFFDSの曲率半径25mmから7.5mmまでのI-V測定によりIcの変化を導出した。その結果，7.5mmまで曲げた状態でもIcの低下率はわずか1%程度であった。講演では， FFDS線材を接続した場合の曲げ特性についても報告する。