Investigation on IC degradation of MgB2 strand by indentation applied before heat treatment process
上林 昌弘, 神保 茉那, 桑原 優介, 高尾 智明, 谷貝 剛 （上智大）； 新冨 孝和, 槇田 康博 （KEK）； 津田 理, 宮城 大輔 （東北大）； 濱島 高太郎, 駒込 敏弘, 塚田 謙一 （前川）； 平野 直樹 （中部電力）； 富田 優, 恩地 太紀 （鉄道総研）； 菊池 章弘 （NIMS）； 繁森 敦, 中島 健太郎 （岩谷産業）
Abstract:我々はMgB2を用いた超電導電力貯蔵装置 （SMES : Superconducting Magnetic Energy Storage）用として定格電流が600 AのDPコイルの開発を行っている。そのために10本撚りのラザフォードケーブルを製作し，IC特性を測定した結果，劣化が見られた。ケーブル撚り線に続くローラー成形工程での素線の凹み変形が劣化の原因と考えられる。そこで，フィラメント数が30本と６本の素線を用いてケーブル製作時にかかる凹みを模擬した試料を作り，凹み量とIC劣化の相関を調べた。また，内部の状況を調べるためにX線CT観察，断面の成分分析を行い，劣化の原因を調査した。