Observations of damage process by a tensile load of BSCCO superconducting wires
大田 諒, 笠場 孝一 （富山大）； 長部 吾郎 （住友電工）； 久森 真 （富山大）
Abstract:Bi系超伝導線材の静的な，あるいは繰り返しの引張り負荷に対して，臨界電流が劣化していく結果は，これまでも報告されている．しかしその際のフィラメント部の損傷経過は，明らかになっていなかった．今回，フィラメント部を一部露出させた試料の，負荷前後の定点観察によって，特に異相周辺の組織が脱落していく様子を，一方で多少の組織脱落にも関わらず，臨界電流は高いレベルを維持していることを確認した．