Influence of Analysis Method on Local Critical Current Distribution in Long RE-123 Coated Conductor Characterized by Reel-to-reel Magnetic Microscopy
辻野 大樹, 福崎 貴裕, 東川 甲平, 鈴木 匠, 井上 昌睦 （九大）； 五十嵐 光則, 柿本 一臣, 飯島 康裕 （フジクラ）； 木須 隆暢 （九大）
Abstract:これまでの報告により、線材の長手方向のIc分布を基に、局所的な電流電圧特性を導出するマルチスケールモデルを提案した。前回の報告では、RTR-SHPMと四端子法による実測との比較の結果、Icの低下が大きな領域で乖離が大きくなった。その原因について、検討した結果、局所Ic導出の際の幅方向成分の寄与にあることが明らかとなった。本研究では、磁気像を基に局所Icを導出する際の解析法として、代表的な1)臨界状態モデ ルを仮定する順問題による導出、2)支配成分である長手方向の電流成分のみを考慮した解析、3) 長手方向と幅方向の成分を考慮した二次元的解析の場合について解析を行 い、欠陥サイズの影響について考察する。