Effect of current ramp rate on critical current of variable temperature insert with thermal conduction cooling
西村 新 （NIFS）； 中本 建志, 吉田 誠, 飯尾 雅実, 鈴木 研人 （KEK）； 外山 健, 山崎 正徳 （東北大）
Abstract: 東北大学 金属材料研究所 大洗センターに設置されている温度可変インサート（VTI）を用いて、Nb3Sn線材の臨界電流測定を実施した。試料ホルダー部の発熱により、試料温度の上昇がある。そのため、試料電流の通電速度を変化させて臨界電流値の測定を行った。それらの結果を示し、Ramp rateの影響を検討する。