Evaluation of hoop strain effect on the superconducting property of ITER TF CIC conductor
武藤 優真, 石山 敦士, 我妻 洸 （早大）； 小泉 徳潔, 村上 陽之, 梶谷 秀樹 （量研機構）
Abstract:ITER用TFコイルの超伝導導体性能評価試験として、SULTAN試験及びTFインサート(TFI)試験が実施され、その結果から有効歪と電磁力の関係性が明らかになった。TFI試験では引張歪であるフープ歪が印加され、素線に印加されている圧縮歪である熱歪が解放されるため素線の臨界電流が上昇し、その結果導体性能も上昇する。しかし実際の評価結果では、単純なフープ歪による導体性能への影響だけでは説明できない結果となった。そこで本研究ではフープ歪がどのように導体性能へ影響するか調べるために、解析プログラムを用いてSULTANとTFIを模擬した場合の臨界電流計算を行ったので報告する。