低温液相成長法を用いた導電性RE–M–O中間層の作製

Fabrication of RE–M–O conductive buffer layer by low-temperature LPE method


舩木 修平, 添田 圭佑, 児島 康大, 山田 容士 (島根大)


Abstract:RE–Ba–Cu–O線材の材料コストの低減に向け,Ag安定化層を必要としない,導電性中間層を有する線材の研究が行われている.この線材構造における導電性中間層の成膜環境を,RE–Ba–Cu–O層と一致させることができれば,連続的な線材製造が実現し,製造コストの大幅な低減が可能になる.さらに,成膜環境の低温化により,基材の選択性,中間層の多層化の課題が解決できると期待される.これまで我々は,水酸化カリウム(KOH)をフラックスに用いた低温液相成長法により,500ºC程度の低温環境で2軸配向したRE–Ba–Cu–O膜を作製することに成功してきた.また,通常の固相反応法で1000ºC以上の反応温度を必要とするLa–M–Oにおいて,KOHフラックスを用いることで400ºCで単結晶が合成できることが報告されている.このRE–M–O (M = Ni, Fe, Cu, etc. )は導電性を有する材料であることから,本研究では,RE–Ba–Cu–O線材の導電性中間層を低温で成膜することを目的として,KOHフラックス法を用いたRE–M–O膜,及びその上層のRE–Ba–Cu–O膜の作製を試みた.