Statistical Investigation on Longitudinal Critical Current Distribution in Long RE-123 Coated Conductor
上津原 大, 東川 甲平, 井上 昌睦 （九大）； 衣斐 顕, 和泉 輝郎 （SRL）； 木須 隆暢 （九大）
Abstract:超伝導線材は１次元の電流輸送媒体であるため、長手方向の臨界電流（Ic）の均一性が実用上重要な性能指標となる。一方、近年では磁気的手法を中心とする局所Ic分布が評価されているものの、現在のところその統計性に関するモデル化が十分に進んでおらず、機器設計や高均一線材実現へのフィードバックに有用な指標の提出が期待されている。そこで本研究では、リール式走査型ホール素子顕微鏡（RTR-SHPM）を用いて長尺RE-123線材の局所Ic分布を評価し、Weibull関数を用いた理論的考察を行った。その結果、線材中には欠陥由来の外的要因による分布とマトリックス由来の本質的な分布が存在し、その双方を考慮することで上記統計性を定量的にモデル化できることがわかった。