Degradation of critical current on Nb3Sn strands with deformation before heat treatment
諏訪 友音, 名原 啓博, 布谷 嘉彦, 高橋 良和, 押切 雅幸, 堤 史明, 渋谷 和幸 （原子力機構）； 村上 幸伸 （JASTEC）； 宮下 克己 （SHカッパー）； SIM Ki-Hong （KAT）； KWON Soun Pil （NFRI）
Abstract:超伝導撚線のツイストピッチを短くすることで、ITER用CS(中心ソレノイド)導体における分流開始温度(Tcs)は電磁力サイクルに対して劣化しないことがわかっている。しかし、ツイストピッチの短い撚線を作る際に、Nb3Sn素線同士の接触個所に強い力が働くことで圧痕ができ、素線の断面が変形する。そこで、熱処理前のNb3Sn素線に圧痕を加えて、圧痕がIcに与える影響を調べた。その結果、ブロンズ法と内部拡散法のITER用Nb3Sn素線において、それぞれ0.2mm、0.3 mm潰れてもIcは変化しないことがわかった。