素線軌跡を考慮したCIC導体内の電流分布と素線変形に関する検討

Study on current distribution and strand deformation taking into account strand paths in CIC conductor


渡部 一晃, 森村 俊也, 宮城 大輔, 津田 理 (東北大); 濱島 高太郎 (前川); 谷貝 剛 (上智大); 小泉 徳潔, 布谷 嘉彦 (原子力機構); 高畑 一也, 尾花 哲浩 (NIFS)


Abstract:核融合炉内で巨大な超電導コイルを構成するケーブル・イン・コンジット(CIC)導体の通電試験において,臨界電流値が設計値を下回る問題が報告されている。この性能劣化の要因の一つに,運転時に働く強力な電磁力によってCIC導体を構成する超伝導素線の一部が大きく変形することが考えられるが,この様な変形の具体的な発生機構は解明されていない。そこで,本検討では導体の素線軌跡のデータを用いた局所的な導体モデルを用いて,電流分布ならびに変形について検討したのでその結果を報告する。