Development of internal strain measurement system for REBCO coated conductors by using X-ray diffraction
小黒 英俊, 諏訪 友音, 武藤 翔吾, 淡路 智, 渡辺 和雄 （東北大）
Abstract: Coated conductorの機械特性は、その特性が非常に良いことが知られており、臨界電流はひずみによって変化することが分かっている。この変化がどうして起こるのかは分かっていないため、その手がかりとして、放射光を使った内部ひずみ測定から、結晶格子のひずみと臨界電流の関係を考えてきた。ただしこの実験は、放射光施設を利用するためにマシンタイムに制限が有り、未だに数回の測定例があるに過ぎない。この実験を、実験室X線を用いて行うために、X線管球を適切に選び、小型の引張り試験機を作製した。これらを用いることで、実験室X線を用いてGdBCO結晶からの回折を得ることができ、内部ひずみ測定ができることが分かった。