The thickness of MgB2 layer and the critical current properties of internal Mg diffusion (IMD)-processed MgB2 wires
葉 術軍, 松本 明善, 戸叶 一正, 熊倉 浩明 （NIMS）； 寺西 亮 （九大）； 木吉 司 （NIMS）
Abstract:内部拡散法（internal Mg diffusion）によるMgB2線材はMgをB層に拡散で供給するためにMgB2が生成する時の体積の収縮が少なくなり、高いMgB2密度が得られる。そして、高い臨界電流密度(critical current density, Jc)が得られる。通常、Mg拡散距離（即ちMgB2の層厚）が短いと、MgとBの反応が十分に生じ、臨界電流密度は高い。しかしながら、線材全断面積当たりの臨界電流密度（Engineering critical current density, Je）を増加するためには、超伝導層の面積、即ち、MgB2の層厚の増加が必要である。本研究では、臨界電流特性（JcとJe）とMgB2の層厚の関係について調べた。