Interstrand contact conductance measurements of NbTi cable-in-conduit conductors for JT-60SA EF coils
夏目 恭平, 尾花 哲浩 （NIFS）； 濵野 慧, 谷貝 剛 （上智大）； 村上 陽之, 木津 要, 吉田 清 （原子力機構）
Abstract:素線間接触コンダクタンスは、CIC導体内の電流分布や電流再配分過程を解析する上で必要な情報の1つであり、導体の安定性に影響する。本研究では、JT-60SAのEF ( Equilibrium Field )コイルに用いられるNbTi CIC (Cable-In-Couduit) 導体の素線間接触コンダクタンス測定を、液体ヘリウム中で行った。素線はNiメッキされ、最終撚りのサブケーブルには、ステンレス鋼のテープによってラップがされている。本講演では、測定された素線の撚り線内における配置と素線間接触コンダクタンスの関係について議論する。