Critical current property of Nb3Sn wires under compressive and tensile strain
諏訪 友音, 峯岸 一博, 小黒 英俊, 淡路 智, 渡辺 和雄 （東北大）； 西島 元 （NIMS）
Abstract:Nb3Sn線材の臨界電流のひずみ依存性を、パックマン式ひずみ印加装置とカム式ひずみ印加装置を用いて、圧縮から引張りまでの広範囲において測定した。パックマン式とカム式で同じ線材を測定した結果、異なるひずみ依存性を示すことが分かった。これは、パックマン式とカム式において、試料に加わる横方向ひずみが異なることが原因であることが分かった。