Grain morphology and possible pinning center of transformation-processed Nb3Al superconductors
伴野 信哉, 竹内 孝夫 （NIMS）； 土屋 清澄 （KEK）； 中川 和彦, 櫻井 義博 （日立電線）； 久留島 康輔, 佐枝 昌彦 （東レリサーチセンター）
Abstract:前回Nb3Al結晶粒のTEM観察結果を示したが、今回はさらに詳細にTEM観察を行い積層欠陥の構造を示した。またEBSDによる結晶粒解析の結果とともに積層欠陥領域の占積率を定量化し、それぞれ線材の臨界電流密度特性との関連付けを行った。その結果を踏まえて、変態法Nb3Al線材のピンニングセンターについて考察した。