Distribution of strands appearing on surface of CIC
森村 俊也, 中澤 忍, 荒井 大地, 宮城 大輔, 津田 理, 濱島 高太郎 （東北大）； 谷貝 剛 （上智大）； 布谷 嘉彦, 小泉 徳潔 （原子力機構）； 高畑 一也, 尾花 哲浩 （NIFS）
Abstract:現在，核融合炉などに用いられるCIC導体において超電導特性の低下が確認されており，この要因として，導体内の偏流現象が挙げられている。定常状態での導体の偏流の原因としてジョイント部の電極と素線間の接触抵抗が一様でない事が考えられるため，私達は実際のCIC導体の素線配置を計測し，定量的にジョイント部の銅スリーブと各素線の接触を評価した。また，CIC導体の素線配置を計算から求め，接触状態を評価したところ，実測の素線配置の測定結果とよく一致した。この素線配置の計算において撚りピッチを変化させると素線と胴スリーブの接触状態が変化するため，この計算方法を用いて，接触パラメータが最適となる撚りピッチを求めた。