Time-dependent Change of Current Sharing Temperature by Repetition Excitation of Central Solenoid Conductor for JT-60SA
村上 陽之, 木津 要, 土屋 勝彦, 吉田 清 （原子力機構）； 尾花 哲浩, 高畑 一也, 濱口 真司, 柳 長門, 今川 信作, 三戸 利行 （NIFS）
Abstract:JT-60SA装置の中心ソレノイド(CS)導体の性能確認を目的とし、短尺サンプルによる分流開始温度（Tcs）測定試験を実施した。今回の試験では、コイル励磁時に発生する電磁力を模擬した4000回の繰り返し通電を実施し、Tcsの経時変化の測定を行った。試験の結果、製造された導体は十分高いTcsを持つこと、繰り返し励磁による劣化は生じないことが確認された。
本講演では、今回実施した試験の概要および結果について報告する。