Magnetic-field angle dependent critical current densities and flux pinning in commercial YBCO thin films and tapes
山崎 裕文 （産総研）； 李 潤錫, 玉田 紀治 （前川）； 古瀬 充穂, 淵野 修一郎 （産総研）
Abstract:我々は、これまでに、市販の YBCO 薄膜（THEVA 社製共蒸着法薄膜）、テープ線材（SuperPower 社製 MOCVD-YBCO テープ、及び、American Superconductor 社製 MOD-YBCO テープ）の液体窒素温度での磁界角度依存性 Jc（H，θ） を誘導法で測定し、H // ab のまわりの富士山型の Jc ピークや、それよりも鋭い山型のピークを観測してきた。ごく最近、山崎らは、フッ素フリー MOD 薄膜に高濃度で存在する積層欠陥は面状ピンでなく、積層欠陥と YBCO マトリクスとの界面に生成する転位が ab 平面内の線状ピンとなる、と言う新しい解釈で、その磁束ピン止め機構を説明した（春の応物学会）。この新しい知見を元に考察すると、市販の薄膜・テープは、微細ナノ析出物がピンとなる試料（富士山型）と積層欠陥周辺部の転位がピンとなる試料（鋭い山型）の２つに大別されることがわかった。磁界角度依存性の温度変化もこの考察を支持している。