YBa2Cu3Oy擬似多層膜の臨界電流密度に対するBaZrO3のドープ量と重イオン照射の影響

Influences of BaZrO3-dose and heavy-ion irradiation on critical current density in YBa2Cu3Oy quasi-multilayerd films


末吉 哲郎, 十河 雄大, 森脇 聡, 米倉 健志, 藤吉 孝則, 光木 文秋, 池上 知顯 (熊本大); 石川 法人 (原子力機構)


Abstract:PLD法によってBaZrO3を擬似層としたYBa2Cu3Oyとの擬似多層膜を作製して,BaZrO3の堆積パルス数や層数を変えたときの,臨界電流密度Jcに与える影響について調べた.
BaZrO3の総導入量が同じ場合においては,層数が少ない場合(YBCO層:約10nm前後)では,Jcはランダムピンが支配的な磁場角度依存性を示すが,層数を多くすると(YBCO層:約4nm),Jcはc軸方向辺りにブロードなピークをもつ磁場角度依存性を示した.
層数が多い,すなわち1層あたりのYBCOの厚さが薄い場合には,各層のBaZrO3が相関してほぼ同じ位置に配置したために,1次元ピン的な振る舞いを示したものと考えられる.
また,ランダムピンの振る舞いを示す多層膜に対して重イオン照射を行い,照射前後のJcについても調べた.