Thermal residual strain measurement for internal-tin Nb3Sn wires by neutron diffraction
小黒 英俊, 星川 晃範, 石垣 徹, 米村 雅雄, 岩瀬 謙二, ADIPRANOTO Dyah （茨城大）； 淡路 智, 西島 元, 渡辺 和雄 （東北大）
Abstract: 中性子回折を用いて、内部拡散法Nb3Sn線材の残留ひずみ測定を行った。
測定は、J-PARCの茨城県材料構造解析装置（iMATERIA）を用いて行った。
このとき、温度を300 Kから10 Kまで変化させて、室温から低温へ温度を下げて行く過程で、Nb3Snに発生するひずみの変化を測定した。
その結果、100K以下においてNb3Snの結晶方位によるひずみの差が顕著に現れる事が分かった。