The inductive measurement of J c for YBCO thin films on SrTiO 3 bicrystal substrate using the third harmonic voltage method
沖田 健佑, 畠中 裕宅, 藤吉 孝則, 末吉 哲郎 （熊本大）； 土井 俊哉 （鹿児島大）
Abstract:結晶粒界などによる弱結合は，超伝導テープ線材の臨界電流密度J cの大きな減少を引き起こす．この弱結合による超伝導テープ線材の臨界電流密度J cの推移を非破壊・非接触で，さらに局所的に測定する方法が必要となる．その方法のひとつに，第三高調波電圧誘導法がある．この方法は微小なコイルに交流電流を流すことで，局所的な測定が可能である．また，試料の加工や電極の取り付けが不要であること，誘導電圧から評価するため非破壊かつ非接触で測定ができる．
本報告では，第三高調波電圧誘導法を用いて，SrTiO 3バイクリスタル基板上に作製したYBCO薄膜のJ cの位置依存性と磁場依存性を評価する．基板の接合面に粒界結合が形成され，この弱結合おけるI 0-V 3特性，E-J特性を第三高調波電圧誘導法により評価した．測定結果，I 0-V 3特性にV 3の2段階の立ち上がりを観測した．これは結晶粒界の粒間と粒内のそれぞれのJ cによる立ち上がりであることを，位置依存性，磁場依存性により確認した．