Development of nondestructive critical current density measurement system
梅津 一也, 齊藤 敦, 相澤 慶二, 大嶋 重利 （山形大）； 高野 祥暢, 鈴木 敏幸, 横尾 政好 （東北精機）
ohshima*yz.yamagata-u.ac.jp
Abstract:永久磁石を超電導薄膜に近づけると斥力が働き、その斥力の大きさが超電導薄膜の臨界電流密度(Jc)に比例することを見出し、薄膜や線材のJcを短時間に精度よく測定できることを報告してきた。今回我々は新たに、薄膜のJcの面内分布を測定できるシステムを試作し、その有効性を評価したので報告する。25mmx25mm角のYBCO薄膜を用い、Jcの面内分布を測定した。磁石のサイズと評価可能な面積の関係や、試料エッジ付近におけるJc評価の不確定性などの検討結果を発表する。またこのシステムは磁性膜磁化率の測定も可能であり、その手法も当日発表する。