中性子回折測定用低温引張試験装置の開発

Development of tensile machine for neutron diffraction measurements at cryogenic temperatures


土屋 佳則 (NIMS ); 鈴木 裕士 (原子力機構); 梅野 高裕 (大陽日酸); 町屋 修太郎 (大同工大); 長村 光造 (応用科学研)
TSUCHIYA.Yoshinori*nims.go.jp


Abstract:負荷ひずみにより超伝導線材中の超伝導層、金属基板など各構成要素に生じるひずみを、中性子回折ひずみ測定法を用いて要素別に動作温度にて評価するために、中性子回折測定用極低温引張試験装置を開発した。本装置は超伝導線材の応力・ひずみ効果のみならず低温での機械特性評価に広く応用できる。講演では装置の概要と、構造材料の測定例を紹介する。