Low Temperature Tensile Test and In-Situ Measurements of Internal Strains in YBCO Coated Conductors by Means of Neutron Diffraction
長村 光造 （応用科学研）； 町屋 修太郎 （大同工大）； 土屋 佳則 （NIMS ）； 鈴木 裕士 （原子力機構）
kozo_osamura*rias.or.jp
Abstract:原科研の歪測定装置（RESA）に新たに設置した低温引張試験機を用いて、5K?77Kの温度範囲でYBCO coated conductorsについて引張試験を行うとと同時に中性子回折によりYBCO超電導層、金属基板、ラミネート層の局所歪を測定した。一方同一試料について引張荷重下で臨界電流測定を行った。得られた結果を整理し、負荷歪に対する各成分中の局所歪がどのように変化するかを明らかにした。特に超電導層中の局所歪は圧縮成分から引張成分に変化し、臨界電流の歪依存性との関係にきわめて興味深い知見が得られた。