Superconduting layer thickness dependence of critical current property in CVD proccesed YGdBCO.
高橋 祐治, 木内 勝, 小田部 荘司, 松下 照男 （九工大）； 式町 浩二, 渡部 智則, 鹿島 直二, 長屋 重夫 （中部電力）
takahasi*aquarius10.cse.kyutech.ac.jp
Abstract:これまでの研究で、IBAD/CVD法で作製されたYBCO線材において、超電導層厚の違いで臨界電流特性が異なることを明らかにしてきた。しかし、これまで評価してきた線材では超電導層厚が厚くなると超電導層の劣化と共に、臨界電流密度（Jc）が減少していたため、その特性評価は容易ではなかった。そこで、本研究では厚膜化によるJc劣化の小さな試料を用いることで、超電導層厚と臨界電流の関係を今まで以上に明確にする。試料はIBAD/CVD法で作成されたYGdBCO線材であり、超電導層厚が0.33～1.43μmの試料を用いて磁化法による臨界電流特性の評価を行い、その厚さの影響を調べる。これらの実験結果について磁束クリープ・フローモデルを用いて解析を行う。