Non Destructive Test of White Etching Layer on Rail Surface by SQUID
宮崎 佳樹, 清野 寛, 田中 芳親, 岩松 勝 （鉄道総研）； 糸崎 秀夫, 都築 理志 （阪大）
miyazaki*rtri.or.jp
Abstract:レール頭頂面に生じる白色層はレールシェリングと呼ばれるき裂の起点となる場合がある。ところが白色層については，スポット的に硬さ測定，目視確認が実施されているのみであり，連続的に検査する手法がない。このような白色層の連続的な分布情報が得られれば，線区情報と白色層の発生状況の対応を検討する有効な手段となりうると考える。そこで，レール母材と白色層との電磁気特性の違いをSQUIDによって検出する手法を開発した。