AC transport current loss measurement in HTS tape with local damage using a pickup loop method
丸子 敦, 田中 寛, 濱田 貴子, 小川 純, 福井 聡, 岡 徹雄, 佐藤 孝雄 （新潟大）
ogawa*eng.niigata-u.ac.jp
Abstract:交流通電することにより生じる交流通電損失を従来の四端子法ではなく，交流通電損失により生じる磁束の変化をピックアップループにより測定することによりハンダ接合がなく測定が可能である．本研究は一区間を劣化させたBi2223/Ag線材の交流通電損失をピックアップループにより測定を行い，劣化による交流通電損失の上昇を測定し非接触測定による交流通電損失測定が可能であることを示した．