Distribution measurement of Jc in superconducting thin film using a permanent magnet
大嶋 重利, 齊藤 敦, 高山 彰優, 神谷 淳 （山形大）； 生野 壮一郎 （東京工科大）； 武石 健太 （住友電装）
ohshima*yz.yamagata-u.ac.jp
Abstract:我々は、超電導薄膜の臨界電流密度を簡便に測定できる永久磁石法を提案し、その精度や再現性などについて報告してきた。今回我々は新たに、試料を平面的に移動できるシステムを用い、Jcの面内分布測定について検討した。試料のX-Y移動は、試料ホルダーを移動させる手法を用いた。5ｍｍ間隔で2次元的に移動できるX-Yステージを用い、50ｍｍ角の試料のJcのマッピングを測定に成功した。