Numerical Simulation of Method for Measuring Critical Current Density
高山 彰優, 神谷 淳 （山形大）； 生野 壮一郎 （東京工科大）； 武石 健太 （住友電装）； 齊藤 敦, 大嶋 重利 （山形大）
takayama*emperor.yz.yamagata-u.ac.jp
Abstract:高温超電導薄膜内を流れる遮蔽電流密度の時間発展を解析するための数値シミュレーション・コードを開発した．遮蔽電流密度の巨視的振る舞いは，電流ベクトル・ポテンシャルを従属変数とする微積分方程式で書き表せる．時間と空間に関して，それぞれ，後退Euler法と有限要素法で離散化すると，同方程式の初期値・境界値問題は各時間ステップにおける連立非線形方程式に帰着する．数値コード内では，この連立非線形方程式を減速Newton法によって解いている．本研究では，数値コードを用いて永久磁石による臨界電流密度測定法を数値的に再現する．