Activities for the standardization of an ac inductive method to measure Jc of superconducting thin films using third-harmonic voltages
山崎 裕文, 馬渡 康徳 （産総研）； 山田 博 （大島商船高専）； 小田部 荘司 （九工大）； 金 錫範 （岡山大）； 大嶋 重利 （山形大）
h.yamasaki*aist.go.jp
Abstract:大面積超電導膜における臨界電流密度 Jc を非破壊的に測定する方法として、第３高調波誘導電圧 V3 を用いる方法がある。我々は、正確に Jc を測定する標準的な方法の提案のために、複数機関における測定などの活動を行って来ている。測定中に薄膜に誘起される電界を計算するとともに、複数の周波数を用いて V3 発生の閾値コイル電流 Ith を測定することによって、電界基準による Jc とｎ値を得ることを基本とし、装置の簡便さなどの要因についても記述した、国際標準のドラフト文書を IEC/TC90 国際会議に提出する予定である。本発表では、我々がこれまで行ってきた標準化活動の概要について紹介する。