Internal Residual Strain in SC Layer in YBCO Coated Conductor
長村 光造 （応科研）； 菅野 未知央 （京大）； 町屋 修太郎 （大同工大）； 足立 大樹 （京大）； 佐藤 優 （SPring8）； 落合 庄次郎 （京大）； Xie Yi-Yuan （Super Power）
kozo_osamura*rias.or.jp
Abstract:YBCO導体の臨界電流の歪依存性において極大が出現することが知られており、それは極大位置で超電導層中の残留歪がゼロになる、いわゆる真性歪効果と考えられてきた。最近放射光により超電導層中の局所歪を精密に計測したところ、極大位置では残留歪がゼロにならないことが明らかとなった。したがってYBCO系の臨界電流極大はNb3Sn系と本質的に異なることが示唆された。