Angular dependence of critical current of sputter-deposited YBCO films
鈴木 光政, 阿部 雅人, 長谷川 琢哉, 小林 俊介, 吉澤 隆仁, 柏倉 隆之 （宇都宮大）
msuzuki*cc.utsunomiya-u.ac.jp
Abstract:スパッタ法により，基板温度を変えてMgO（100）基板にYBCO薄膜を作製した．ゼロ抵抗臨界温度は，全て約90Kである．X線回折の結果，これらの薄膜は，ほぼc軸配向膜であるが製作温度の違いにより，a軸配向の量が少し異なっている．これらの薄膜について液体窒素温度領域で，臨界電流の角度磁場依存性を測定した．a軸配向部分を含まない試料では，磁場がc面内方向で臨界電流のピークを示すが，a軸配向を含む試料では，c軸方向に磁場が加えられた場合でもブロードなピークが現れた．AFMによる表面観察の結果を加え，組織的な観点から本試料の臨界電流の異方性について検討したので．その結果を報告する．