姫木 携造 , 木村 健吾 , 木内 勝 , 小田部 荘司 , 松下 照男 （九工大）；宮田 成紀 , 衣斐 顕 , 山田 穣 , 塩原 融 （SRL）
himeki*aquarius10.cse.kyutech.ac.jp
Abstract: BCO-coated線材の臨界電流特性に対する超電導層の厚さ依存性の影響について調べた。低電界領域での測定により、PLD法で作製されたテープ線材の低磁界での臨界電流密度（Jc）が膜厚とともに低くなるのは、厚い試料での超電導層の組織の劣化によるものである。このため、通常電界領域においては磁束クリープの影響を受けても、薄い試料における特性の劣化はみられない一方で、永久電流モードにおけるような低電界領域では薄い試料の特性は大きく劣化する。こうしたふるまいは磁束バンドルサイズを示すg2の厚さ依存性によって説明される。今回は、磁束クリープフローモデルを用いてこれまで測定された試料を包括して比較検討を行う。