第三高調波電圧誘導法による臨界電流密度特性に対する磁束線可逆運動の影響
Effect of the reversible flux motion on the critical current density measured by the third harmonic voltage method

吉田 貴昭 , 辻田 俊介 , 中津留 公貴 , 木内 勝 , 小田部 荘司 , 松下 照男 (九工大);二村 宗男 (秋田県立大);小西 哉 (信州大);宮田 成紀 , 衣斐 顕 , 山田 穣 , 塩原 融 (SRL)
yoshida*aquarius10.cse.kyutech.ac.jp


Abstract:  超伝導薄膜の直上にコイルを置き、交流電流を通電してコイル両端に誘導される第三高調波電圧を測定するとき、コイルから発生している交流磁界が反対側に突き抜ける際に第三高調波電圧が急激に大きくなる。この時の交流電流の閾値Ithは膜厚dと臨界電流特性Jcに比例するので、Jcを測定することが出来る。しかし実際の応用に際しては、膜厚が交流磁場の侵入長λ0’と同程度の時に磁束線の可逆運動が顕著となり、第三高調波電圧誘導法によるJcが過大評価される恐れがある。そこで、本研究では膜厚の異なるYBCO-coated線材に対して第三高調波電圧誘導法によりE-J特性を評価し、膜厚によりどの程度磁束の可逆運動の影響を受けJcが過大評価されてしまうのかを明らかにし、その結果とCampbellモデル及び同モデルに修正を加えたmodified Campbellモデルによる解析結果との比較を行う。