放射光を用いたcoated conductor中の超伝導膜の内部ひずみ直接測定

Internal strain measurement of a superconducting film in coated conductor using synchrotron radiattion

菅野 未知央 （京大） ； 町屋 修太郎 （原子力機構） ； 長村 光造 （応用科学研究所） ； 足立 大樹 （京大） ； Prusseit Werner （THEVA） ； 佐藤 正直 （Spring-8）
sugano*kuee.kyoto-u.ac.jp
Abstract:　 大型放射光施設（Spring-8）にて、coated conductor中の超伝導膜（YBCO、DyBCO膜）のひずみの直接測定を実施した。線材からはく離した膜を粉砕して粉末の回折をとり、ゼロひずみ状態の膜の格子定数を近似的に求めた。多軸回折計に手動式の引張試験装置をマウントして、荷重を段階的に変化させて超伝導膜の格子定数の変化を測定した。負荷ひずみと内部ひずみの関係が線形関係からそれ始めるひずみ値を破断ひずみとして、各超伝導膜の破断ひずみを求めた。また、液体窒素中でのIc-ひずみ測定の結果を合わせて考察することにより、超伝導体ごとのIc-ひずみ特性の違いについての説明を試みた。