素線数の異なる大型超伝導CIC型導体の素線軌跡の比較研究

Investigation of strand locations in different strand number CIC Conductors

奈良 雄樹 ， 大村 惇 ， 谷貝 剛 ， 津田 理 ， 濱島 高太郎 （東北大） ； 布谷 嘉彦 ， 奥野 清 （原子力機構） ； 高畑 一也 （NIFS）
naralist*ecei.tohoku.ac.jp
Abstract:　 CIC型導体は、ケーブルのボイド率を低くして導体の電流密度を高めるために、撚り線をコンジットに収納する工程で圧縮される。これによって、撚り乱れが発生し、交流損失が増大することが観測された。また、電磁力の増大によって交流損失が増大する現象も観測されている。これは、電磁力によって撚り線が圧縮・変形され、素線間接触抵抗が減少することが原因だと考えられているが、実験に基づく定量的な調査は行われていない。そこで著者らの研究チームでは、CIC型導体の素線軌跡を調べるため、素線81本導体と素線486本導体を切断し、導体内部の素線軌跡を実測により求めた。本講演では、素線数の異なるCIC型導体内部の素線軌跡の測定結果を比較し、その評価結果について述べる。