低温走査レーザ顕微鏡と走査SQUID顕微鏡の連携によるYBCO線材内の局所I-V特性評価
Local I-V characteristic in YBCO coated conductor estimated by the combination of Low Temperature Scanning Laser Microscopy and Scanning SQUID microscopy
木須 隆暢
，井上 昌睦，小柳 智史，中村 知也，庄山 俊弘，今村 和孝（九大）；衣斐 顕，宮田 成紀，山田 穣，塩原 融（SRL）
kiss@sc.kyushu-u.ac.jp
Abstract: 低温走査レーザ顕微鏡（LTSLM）ならびに走査SQUID顕微鏡（SSM）観察によって、それぞれ独立にテープ線材表面の局所損失分布と局所電流密度分布評価が可能となる。両者を複合的に用い、数ミクロン程度の高い空間分解能で、YBCOテープ面表面の各座標位置における局所電流―電圧（I-V）特性の評価を行った。LTSLMにおいて損失発生の起源と見られる箇所では、電流が集中している。このことは、損失が発生している箇所の臨界電流密度（Jc）そのものが低下しているではなく、電流の集中に起因して損失が発生していることを示している。マトリクス部分でのI-V特性ならびにJc分布の統計性について議論すると共に、電流障壁としての欠陥がマクロスケールで観測されるJc値に及ぼす影響についても考察する。謝辞：本研究は超電導応用基盤技術研究開発の一環として、ISTECを通じてNEDOからの委託を受けて実施したものである。