電流-磁場分布測定によるRE123超電導体の欠陥評価
Evaluation of defects in RE123 superconductors from magnetic field mapping induced by transport current
中村 雄一
，澁澤 彰，稲田 亮史，太田 昭男（豊橋技科大）
nakamura@eee.tut.ac.jp
Abstract: RE123超電導体に臨界電流に比べ比較的小さな電流を流し、それによって生じる試料表面に垂直な成分の磁場分布をホール素子により測定した。その磁場分布の乱れから、RE123超電導体の粒界や接合部における欠陥の特性評価を行い、本手法ではバルクの捕捉磁場では見つけにくい欠陥を評価できる可能性があることを見いだした。