YBCO薄膜線材の曲げ特性
Ic of YBCO coated conductors with bending strain
小西 昌也
，衣斐 顕，宮田 成紀，高橋 一弘，小林 広佳，山田 穣，塩原 融（SRL）
masaya-konishi@istec.or.jp
Abstract: Ag／YBCO／PLD-CeO2／IBAD-GZO／金属基板構造のYBCO薄膜線材の曲げによるIcの変化を調べた。線材のIcは約300Aで、膜面を外側に曲げ半径15mm、10mm、7.5mm及び5mmで曲げてIcを測定した（歪で約0.33%、0.5%、0.67%及び1%に相当）。曲げ半径10mm程度からIcが大きく低下し始め、曲げ半径7.5mmでは元の10%以下となった。曲げ半径15mmでの磁場中でのIcも測定したが、曲げなしのものとほぼ同じ特性を示した。