CIC導体に圧縮力が印加されたときの素線間接触状況変化
Investigation of decreasing inter-strand contact resistance induced by pressure in CIC conductor
谷貝 剛
，奈良 雄樹，佐藤 秀成，津田 理，濱島 高太郎（東北大）；高畑 一也（NIFS）
gaiya@ecei.tohoku.ac.jp
Abstract: 大型超電導CIC導体では，導体製造時に生じる撚り乱れによって，素線間接触が線接触になり，撚り乱れがない場合と比較すると接触抵抗が減少していると考えられている．結合損失時定数は素線間接触抵抗に反比例するので，損失が増大する．最近SMESの通電試験などで，導体に加わる電磁力の増加に従って損失の増大が観測されており，素線間接触状況が電磁力によって変化していることが示唆される．本研究は，導体のコンジットの一部を切り抜き，導体に圧縮力を印加して導体断面方向の抵抗変化を測定することによって，これまで研究されなかった電磁力印加時の素線間接触状況の変化を定量的に検討することを目的とする．